半導体テストに要する時間やコストを抑えることができない。特にアナログデジタル混載半導体やRF半導体では仕様の幅が広く、テスト項目の変更もしばしばだ。従来の半導体自動テスト装置（ATE）とは異なる特徴を備えた新しい半導体自動テストを紹介する。
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PR: 半導体テストの新時代――柔軟で低コストな手法とは
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